设备特征
单工位或者双工位全自动上下料
生产效率是单针或者双针探针台的3.5-5X
带烘干功能
可选择配置AI芯片外观检测功能
产品特点
全自动上下料，可以定制与AGV对接
净产率：55ms/颗（正向和漏电测试）
Uptime：>95%
碎片率：<1%
测试不良品标识:墨水打点，自动烘干
晶圆尺寸:兼容4-6英寸
可选择配置AI芯片外观检测功能
产品介绍
D256多针点测机是一种使用多针探针盘测试芯片电性能的设备，与行业中常见的探针台比较，D256的产率具有明显优势，约是其他常见探针台的3-5倍。
D256使用256根针与晶圆芯片形成电接触。测试芯片时，针与针之间的切换由继电器来完成，这样可以大幅度减少探针台机械移动的时间，显著提升了设备的产率。
在设备架构上，用户可以添加芯片外观检测功能，在测试芯片电性能的同时进行芯片外观检测。针对该产品，我们已经申请了发明专利。